Ceyear思仪 6362C 光谱分析仪
6362C是一款高分辨、大动态高速高性能光谱分析仪，适用于350nm～1200nm光谱范围的DWDM等光系统测试；LED、FP-LD、DFB-LD等光有源器件测试；光纤等光无源器件测试。
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- 产品概述
- 配置选型
6362C是一款高分辨、大动态高速高性能光谱分析仪，适用于350nm～1200nm光谱范围的DWDM等光系统测试；LED、FP-LD、DFB-LD等光有源器件测试；光纤等光无源器件测试。
主要特点
- 20pm最小光谱分辨率
- 350nm～1200nm光谱扫描范围
- 60dB大动态范围
- 支持空间光输入
- 强大的多应用光谱数据分析功能
- 12.1英寸触控显示、全中文操作
20pm最小分辨率
6362C光谱分析仪支持不同光谱分辨率的设置，多种光谱分辨率设置灵活切换，最小光谱分辨率优于20pm。
峰值检索
6362C光谱分析仪采用拥有自主知识产权的光谱自适应峰值检索算法，峰值检索准确度高，自适应性和鲁棒性强，且运算速度快。
单纵模激光光谱分析
6362C光谱分析仪具备多场景光谱分析功能，针对DFB-LD等单纵模激光光源，仪器提供阈值分析和边模抑制比分析两种分析方法，有效准确的评估单纵模待测光源的中心波长、光谱带宽和边模抑制比。
多纵模激光光谱分析
针对FP-LD等多纵模激光光源，6362C光谱分析仪提供ndB损耗分析、包络分析和均方根分析三种分析方法，多维度全面评估多纵模待测光源的中心波长和光谱带宽。
多种光电子器件应用分析功能
6362C光谱分析仪可以对LED、FP-LD、DFB-LD、LD模块等各类型激光器进行一键测试与分析，实现所有测试项目批处理。仪器还集成了光纤偏振模色散测量应用、波分复用应用等光谱应用功能。
配置选型
| 项目 | 规格 |
| 波长范围 | 350nm~~1200nm |
| 波长精度 | ±0.200nm |
| 光谱分辨率设置 | 0.02nm、0.05nm、0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、2nm |
| 最小采样分辨圣 | 0.001nm |
| 采祥点数 | 101~50001、AUTO |
| 功率灵敏度设置 | NORMAL、MID、HIGH1、HIGH2和HIGH3 |
| 功率灵敏度 | -60dBm(灵敏度:HIGH3) |
| 功率精度 | ±1.0dB(850nm，-20dBm；输入功率≤10dBm，灵敏度:MID) |
| 动态范围 | 60dB(633nm，峰值±0.5nm，分辨率:0.02nm) |
| 适用光纤 | SM(9.5/125pm)、Gl(50/125pm、62.5/125pm)、大芯径光纤(最大800pm) |
| 显示 | 12.1英寸触摸屏 |
| 存储 | 128GB |
| 接口 | USB/以太网/VGA |
| 工作条件 | 环境温度:5℃~35℃；湿度:≤80% |
| 性能保证温度:18℃~28℃ | |
| 外形尺寸 | 宽x高x深=426mmx221mmx45mm |
| 重量 | 约20kg |
| 电源 | 100VAC~240VAC、50Hz/60Hz |
| 最大功耗 | 约100W |
